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透過電子顕微鏡分析 TEM Analysis

透過電子顕微鏡分析 [TEM Analysis]

 ナノ材料を粒径、形状、結晶構造などを調べるには、TEMが非常に有力な分析手段です。 TEM分析においては、装置を扱う技術も重要ですが、観察した像情報から試料の構造や物性、生成方法などを予測したり、 フィードバックしたりできる洞察力も非常に重要です。

 当社は、試料中に含まれている未知の情報を漏れなくかつ忠実に 抽出するよう努めております。 1枚か2枚の写真では試料の本質が語れない場合が多いため、当社では、写真枚数による単価設定をせず、 試料数による単価設定をしております。 撮影する写真枚数は6枚以上/試料です。 視野数重視、倍率重視、回折像重視など、目的に応じて判断いたします。
  • 基本料金:\50,000
  • 分析費用:\100,000×試料数
  • 視野数:原則 1試料につき6視野

※なお、難易度によって価格が変更することがあります

TEM画像 Fe3O4膜のアンチフェーズ構造のTEM観察